Rohde & Schwarz FSP30 頻譜分析儀，9 kHz 至 30 GHz

所屬系列: Rohde & Schwarz

產品詳情

頻率範圍 9 kHz 至 30 GHz，在 10 kHz 偏移下具備 -113 dBc/Hz 的卓越相位雜訊性能。
內建符合 CISPR 16-1-1 標準的 EMI 頻寬 (200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz)，適用於預符合性測試。
先進的數位濾波與閘控掃描功能，可進行精確的時域分析。
分割畫面顯示，最多可支援 3 條獨立軌跡，每條軌跡皆可獨立設定，實現靈活的量測配置。
100% 原裝新品，可當日出貨。

規格參數

ROHDE & SCHWARZ FSP30 頻譜分析儀是一款頂級儀器，專為從 9 kHz 至 30 GHz 的嚴苛射頻與微波分析而設計。它將一系列全面的標準功能——包括數位解析度頻寬、EMI 合規濾波器和閘控掃描——整合在一個強大的單一平台上。FSP30 專為實驗室精度與生產效率而設計，透過人性化介面和分割畫面功能，可獨立控制最多三條軌跡，提供快速、準確的量測結果。其低相位雜訊、寬動態範圍以及豐富的量測功能 (TOI、OBW、ACPR、相位雜訊)，使其成為頻譜監控、元件特性分析和 EMI 預符合性測試等嚴苛應用中不可或缺的工具。該儀器結構堅固且為 100% 原裝狀態，確保了長期可靠性，為工程師提供無妥協的頻譜分析能力。

參數	規格
頻率範圍	9 kHz 至 30 GHz
解析度頻寬 (RBW)	1 Hz 至 10 MHz (1、2、3、5 步進)
顯示平均雜訊位準 (DANL)	典型值 -155 dBm (1 Hz RBW，1 GHz)
相位雜訊	典型值 -113 dBc/Hz (10 kHz 偏移，1 GHz 載波)
振幅準確度	±0.5 dB (95% 信賴水準)
視頻頻寬 (VBW)	1 Hz 至 10 MHz
檢波器	峰值、最小峰值、取樣、RMS、準峰值 (搭配 EMI 頻寬)
動態範圍	典型值 115 dB (TOI 量測)
掃描時間	1 µs 至 1000 s (取決於掃頻寬度)
軌跡模式	最大保持、最小保持、平均、檢視、空白、寫入
軌跡數量	每螢幕最多 3 條，分割畫面並可獨立設定
量測功能	TOI、OBW、相位雜訊、ACP(R)、多載波 ACP、閘控掃描
介面	GPIB (IEEE-488)、Centronics (並列埠)、RS-232-C、LAN (選配)、USB (Type A 和 Type B)
EMI 頻寬	200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz (符合 CISPR 16-1-1 標準)
文件輸出	透過 Centronics 或 PC 相容檔案格式 (例如 .csv、.gif) 進行硬拷貝
電源供應	AC 100-240 V，50/60 Hz，最大 400 VA
重量	約 16 kg (35.3 lbs)
操作溫度	0 °C 至 +50 °C